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LUPHOSCAN 260/420/600/850 HD 系列非接触式3D光学表面形貌测量系统

展商： TAYLOR HOBSON LIMITED

原产国/地区：英国

LUPHOSCAN 系列非接触式3D光学表面形貌测量仪是基于多波长干涉技术（MWLI®）的干涉式扫描测量系统, 用于旋转对称和非旋转对称表面高精度、非接触式3D表面形貌测量, 如平面、球面、非球面和自由曲面。主要优势包括测量速度快，对不常见的表面形状 (如平顶或有拐点的轮廓) 具有高度灵活性，测量口径从0.5mm到850mm或更大，并具有优异的重复性。

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基于MWLI® (多波长干涉测量法) 技术的非接触式非球面超精密3D形状测量

高达90°的表面陡度 - 是测量陡峭、小型和大型非球面的理想选择

能够测量直径 850mm 或更大直径的光学元件

平面、球面、非球面和自由曲面的全3D面形测量

几乎能测量所有的材料：透明、镜面、不透明、抛光或磨光面