bruker三维光学轮廓仪ContourX-1000
展商：Bruker Corporation
原产国/地区：德国
落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。
展品详情
落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。
全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。
特点：
·可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。
·自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。
·提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。
光学轮廓分析设备硬件设计
ContourX-1000 集成有 Bruker 倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。