SciAps手持光谱仪X-50
展商：SciAps, Inc.
原产国/地区：美国
● 核心芯片ARM架构，操作系统反应更快；分析仪重量更轻，体积更小，携带更方便； ● 采用新一代高性能，高精度，高灵敏度大面积Si-Pin探测器，拥有更低的元素检出下限； ● 采用新一代的校准技术，具有更高的计数率，从而使仪器具有更快的检测速度和更好的精确性； ● 采用升级核心算法，使仪器重要指标重复性（RSD%）提升； ● 工业级双层探测器保护技术，内置不锈钢快门保护装置，测试时自动打开，测试结束后自动关闭，有效的保护仪器在测试过程中不会被不规则样品损伤探测器，降低了分析仪损坏的风险； ● 内置高清彩色摄像头，能使用户准确观察到测试部位; ● 内置微点准直器，可测试焊缝及细小样品; ● 底部四方形设计，平衡性好。使仪器可自立于工作台，便于放置；仪器底部和主体尾部在一条直线上，能反向自立于工作台，测试小样品无需手握，也无需单独购买支架； ● Android OS操作系统，有利于智能化和扩展性，方便客户数据系统与台式电脑操作系统相结合。
展品详情
X-50采用PiN二极管技术，这是硅漂移探测器出现之前的上一代探测器。PiN技术处理的X射线速率比硅漂移探测器低10倍至20倍，并且分辨率低约70 eV（更大的宽度）。
然而，对于许多应用，例如不锈钢，高温和铜合金的基本分选，或分析土壤，矿石，粉末等中的基质或重金属，PiN技术是令人满意的。X-50不会测量合金中的镁，铝或硅。对于某些材料，X-50可以在1%的水平上测量P和S。与 X 的 SDD 版本相比，检测限将高出 3 倍（升高）。但是，X-50对于运行良好的应用程序具有有吸引力的价格点。
X-50包括与其他X型号相同的先进X射线管（最大工作电压为40 kV），集成摄像头，微距摄像头，视频和Android操作系统平台。X-50可用于合金，环境，采矿/勘探，贵金属，汽车催化剂，涂层以及用于工业和用户定制应用的经验应用程序。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准进行工厂校准。