您在这里：

展商展品

bruker三维光学轮廓仪ContourX-200

展商：Bruker Corporation

原产国/地区：德国

ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界的操作和分析软件Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

特点

·易于使用的界面，可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告