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LUPHOScan 260/420/600/850 HD 系列非接触式3D光学面形测量系统
展商： TAYLOR HOBSON LIMITED
原产国/地区：英国
LUPHOScan HD 系列非接触式3D光学表面形貌测量仪是基于多波长干涉技术（MWLI®）的干涉式扫描测量系统, 用于对旋转对称和非旋转对称表面进行精密的非接触式3D面形测量, 如非球面、球面、平面和自由曲面，为高质量的光学表面全3D形状测量提供解决方案。 主要优势包括测量速度快，对不常见的表面形状 (如平顶或有拐点的轮廓) 具有高度灵活性，测量口径可达850mm或更大，并具有更佳的重复性。
展品详情
基于MWLI® (多波长干涉测量法) 技术的非接触式非球面超精密3D形状测量
高达90°的表面陡度 - 是测量陡峭、小型和大型非球面的理想选择
能够测量直径 850mm 或更大直径的光学元件
非球面、球面、平面和自由曲面的全3D面形测量
几乎能测量所有的材料：透明、镜面、不透明、抛光或磨光面