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该涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042 可测量可磁化基体上非磁性层的厚度，以及使用涡流原理确定非磁性导电基体上非导电层的厚度。
该涂层测厚仪 LEPTOSKOP 2042 可测量可磁化基体上非磁性层的厚度，以及使用涡流原理确定非磁性导电基体上非导电层的厚度。